大规模集成电路测试(关于大规模集成电路测试简介)

尚紫旭
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1、 VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟,诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受,亦成为EDA工具的基本特征。

2、该书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构,为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础,也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。

3、 。

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